利用原位加熱測試樣品臺可實現動態顯微結構觀察，并可為材料研究帶來新的見解
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模塊化設計，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)
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通過自定義設計，可在 SEM 樣品臺上快速安裝和拆卸，拆除后不影響SEM的正常工作
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充分考慮與其它探頭（包括EBSD 在內）配合工作的幾何關系，可以實現動態觀察
Murano 加熱樣品臺
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Murano 樣品臺用于 EBSD 應用時可加熱至 950 °C，用于二次電子探測器 (SED) 成像時可加熱至 1250 °C
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研究最高 950 °C 高溫下的實時結晶和相變情況
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采用專有設計，可實現離線安裝和存儲樣品
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專有的樣品安裝方式，可完美配合 EBSD/聚焦離子束 (FIB)/二次電子模式下的
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水冷卻和熱防護屏蔽可確保在高溫條件下實現高水平的保護
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采用額外的偏壓控制，為高溫條件下的成像提供幫助
